Servicios Científico-Técnico
Microscopía Electrónica
Microscopía Electrónica
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Prestaciones
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Externos | |
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| OPI / AGE / Universidades | Otros | |
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Metalización (Sputtering)
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59,36 (€/10 muestras)
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65,01 (€/10 muestras)
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Microscopía Electrónica de Barrido de Alta Resolución
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57,33 (€/hora)
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70,98 (€/hora)
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Microscopía Electrónica de Barrido, Bajo Voltaje
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57,33 (€/hora)
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70,98 (€/hora)
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Microscopía Electrónica de Barrido. Espectroscopía de Rayos X por Dispersión de Energía
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57,33 (€/hora)
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70,98 (€/hora)
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Contacto
tcrojas@icmse.csic.es, cjimenez@icmse.csic.es, asuncion@icmse.csic.es
Microscopía Electrónica de Transmisión
Responsables Científicos
Dra. Cristina T. Rojas Ruiz, Dra. Asunción Fernández Camacho
Personal Técnico
Lda. Olga Montes Amorín, Dª. Inmaculada Rosa Cejudo
La microscopía electrónica de transmisión es una técnica ampliamente utilizada para la caracterización estructural y química de materiales a escala microscópica y nanoscópica, proporcionando imágenes bidimensionales de la textura de la muestra, forma y tamaño de grano y/o de partícula, grado de homogeneidad a escala microscópica, grado de cristalinidad de la muestra, identificación de fases cristalinas, e imágenes de alta resolución que identifican dominios cristalinos. El equipo está dotado de un analizador EDX para el análisis composicional. Puede aplicarse a todo tipo de materiales y campos de estudio en ciencia y tecnología de materiales trabajando sobre muestras electrón-transparentes preparadas en su caso ad-hoc para este fin. El servicio realiza microscopía en modo transmisión: Imágenes en campo claro y campo oscuro, difracción de electrones de área selecta y microscopía electrónica de alta resolución así como análisis elemental de area selecta. No se dispone de modo STEM.
Instrumental disponible
- Microscopio JEOL 2100Plus (200kV) con filamento de LaB6. Resolución estructural de 0.14 nm entre líneas y 0.23 nm entre puntos, portamuestras de uno y dos giros. Acoplados al equipo se dispone de un sistema de análisis por Energías Dispersivas de Rayos X (EDX X-Max 80T, Oxford Instruments) y una cámara CCD (Gatan) para registro de imágenes.
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Prestaciones
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Externos | |
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| OPI / AGE / Universidades | Otros | |
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Caracterización Estructural: Microscopía Electrónica de Transmisión (TEM)
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88,06 (€/hora)
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96,45 (€/hora)
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Microanálisis por Dispersión de Energía (EDS) en Microscopía Electrónica de Transmisión
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88,06 (€/hora)
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96,45 (€/hora)
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Microscopía Electrónica de Transmisión de Alta Resolución
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88,06 (€/hora)
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96,45 (€/hora)
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Contacto
tcrojas@icmse.csic.es, olga@ciccartuja.es, asuncion@icmse.csic.es
Laboratorio de Nanoscopias y Espectroscopias-LANE
Responsables Científicos
Dra. Cristina T. Rojas Ruiz, Dra. Asunción Fernández Camacho
Personal Técnico
Lda. Dª Olga Montes Amorín
El laboratorio LANE cuenta con un microscopio TEM de emisión de campo Tecnai F30, dotado con modo STEM, detectores HAADF y EDX y filtro de energía (GIF). Las técnicas disponibles incluyen: medidas TEM en campo claro y campo oscuro; TEM de alta resolución; difracción de electrones; análisis STEM-HAADF; análisis EDX y STEM-EDX así como EELS y STEM-EELS, incluyendo medidas puntuales, en línea y mapas composicionales; imágenes EFTEM; análisis espectro-imagen y tomografía electrónica.
Instrumental disponible
- Microscopio Tecnai G2 F30 S-TWIN de 300KV con cañón de emisión de campo. Resolución estructural de 0.2 nm entre puntos, portamuestras de uno y dos giros. Acoplados al equipo se dispone de un detector EDX Silicon Drift Detector X-Max 80T (Oxford Instruments) y un filtro de energías Gatan (GIF Quantum SE)
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Prestaciones
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Externos | |
|---|---|---|
| OPI / AGE / Universidades | Otros | |
| Caracterización Estructural: Microscopìa Electrónica de Transmisión (TEM) |
121,12 (€/hora)
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132,65 (€/hora)
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Microanálisis por Dispersión de Energía (EDS) en Microscopía Electrónica de Transmisión
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121,12 (€/hora)
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132,65 (€/hora)
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Microscopía Electrónica de Transmisión: EELS (Espectroscopia por Pérdida de Energía)
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121,12 (€/hora)
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132,65 (€/hora)
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Microscopía Electrónica de Transmisión: EFTEM (Energy Filtering TEM)
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121,12 (€/hora)
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132,65 (€/hora)
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Microscopía Electrónica de Transmisión: ELNES (Energy-Loss Near Edge Structures)
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121,12 (€/hora)
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132,65 (€/hora)
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Microscopía Electrónica de Transmisión: Spectrum Imaging
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121,12 (€/hora) |
132,65 (€/hora)
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Microscopía Electrónica de Transmisión: Tomografía Electrónica en Modos TEM/STEM)
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121,12 (€/hora) |
132,65 (€/hora)
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| Microscopia Electrónica de Transmisión de Alta Resolución | 121,12 (€/hora) | 132,65 (€/hora) |
| Microscopía Electrónica de Transmisión: Modo STEM/ADF-HAADF | 121,12 (€/hora) | 132,65 (€/hora) |
Contacto
tcrojas@icmse.csic.es, asuncion@icmse.csic.es
Laboratorio de Preparación de Muestras para Microscopía Electrónica
Responsables Científicos
Dra. Cristina T. Rojas Ruiz, Dra. Asunciòn Fernández Camacho
Personal Técnico
Dª María Inmaculada Rosa Cejudo, Lda. Dª Olga Montes Amorín
El laboratorio de preparación de muestras para TEM y SEM dispone de metalizador de oro, evaporador de carbón, metalizador de Cr y carbón, cortadora de disco, pulidora, “disc-grinder”, cortadora ultrasónica, pulidora cóncava (dimple) y adelgazador iónico (Fischione 1010).
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Prestaciones
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Externos | |
|---|---|---|
| OPI / AGE / Universidades | Otros | |
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Metalización (Sputtering)
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59,36 (€/muestra)
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65,01 (€/muestra)
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Preparación de Láminas Delgadas y Probetas Delgado-Pulidas (Sección Transversal)
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212,81 (€/muestra)
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233,08 (€/muestra)
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Preparación de Láminas Delgadas y Probetas Delgado-Pulidas (Visión Planar)
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181,22 (€/muestra)
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198,48 (€/muestra)
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Preparación de Láminas Delgadas y Probetas Delgado-Pulidas (Adelgazamiento Iónico)
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29,79 (€/muestra)
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42,56 (€/muestra)
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Contacto
tcrojas@icmse.csic.es, asuncion@icmse.csic.es
icms
