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Servicios de Investigación

Servicio de Microscopía de Electrones

Microscopía Electrónica de Transmisión


Personal Técnico
Lda. Olga Montes Amorín, Dª. Inmaculada Rosa Cejudo
Responsables Científicos
Dra. Asunción Fernández Camacho

Reserva on-line

La microscopía electrónica de transmisión es una técnica ampliamente utilizada para la caracterización estructural y química de materiales a escala microscópica y nanoscópica, proporcionando  imágenes bidimensionales de la textura de la muestra, forma y tamaño de grano y/o de partícula, grado de homogeneidad a escala microscópica, grado de cristalinidad de la muestra, identificación de fases cristalinas, e imágenes de alta resolución que identifican dominios cristalinos. El equipo está dotado de un analizador EDX para el análisis composicional. Puede aplicarse a todo tipo de materiales y campos de estudio en ciencia y tecnología de materiales trabajando sobre muestras electrón-transparentes preparadas en su caso ad-hoc para este fin. El servicio realiza microscopía en modo transmisión: Imágenes en campo claro y campo oscuro, difracción de electrones de área selecta y microscopía electrónica de alta resolución así como análisis elemental de area selecta. No se dispone de modo STEM. 

Instrumental disponible

  • Microscopio JEOL 2100Plus (200kV) con filamento de LaB6. Resolución estructural de 0.14 nm entre líneas y 0.23 nm entre puntos, portamuestras de uno y dos giros. Acoplados al equipo se dispone de un sistema de análisis por Energías Dispersivas de Rayos X (EDX X-Max 80T, Oxford Instruments) y una cámara CCD (Gatan) para registro de imágenes.

Contacto
olga@ciccartuja.es, asuncion@icmse.csic.es
954 48 95 00 exts. 909215 - 909216



Microscopía Electrónica de Barrido


Personal Técnico
Dra. Mª Carmen Jiménez de Haro
Responsables Científicos
Dr. Asunción Fernández Camacho

Reserva on-line

La microscopía electrónica de barrido proporciona información microestructural, morfológica y de composición química en escala microscópica. Se puede aplicar a todo tipo de materiales y problemáticas de estudio en ciencia de materiales: cerámicas, plásticos, metales, minerales, catalizadores, muestras de patrimonio histórico, capas finas, recubrimientos, interfases, nanopartículas, etc. El equipo SEM es un microscopio de emisión de campo de cátodo frío que permite realizar imágenes de la morfología y textura superficial de las muestras con una resolución de 1 nm a 15kV. También permite trabajar a bajo voltaje en muestras sin metalizar y en modo transmisión (STEM-in-SEM) en muestras electrón-transparentes. Acoplado al detector de rayos-X (EDX) permite análisis elementales y mapas composicionales.

Instrumental disponible

  • Microscopio SEM, modelo Hitachi S4800 SEM-FEG: cañón de emisión de campo de cátodo frío y voltaje de 0.5-30 kV, resolución de 1 nm a 15kV. Dotado de analizador EDX Bruker-X Flash-4010 con una resolución de 133 eV (en la línea MnKα) y detector con portamuestras para trabajar en modo transmisión (STEM-in-SEM).
  • Equipamiento adicional en el “laboratorio de preparación de muestras para microscopía electrónica”

Contacto
cjimenez@icmse.csic.es, asuncion@icmse.csic.es
954 48 95 00 ext. 909211



Laboratorio de Nanoscopias y Espectroscopias-LANE


Responsables Científicos
Dra. Asunción Fernández Camacho

Reserva on-line

El laboratorio LANE cuenta con un microscopio TEM de emisión de campo Tecnai F30, dotado con modo STEM, detectores HAADF y EDX y filtro de energía (GIF). Las técnicas disponibles incluyen: medidas TEM en campo claro y campo oscuro; TEM de alta resolución; difracción de electrones; análisis STEM-HAADF; análisis EDX y STEM-EDX así como EELS y STEM-EELS, incluyendo medidas puntuales, en línea y mapas composicionales; imágenes EFTEM; análisis espectro-imagen y tomografía electrónica.

Instrumental disponible

  • Microscopio Tecnai G2 F30 S-TWIN de 300KV con cañón de emisión de campo. Resolución estructural de 0.2 nm entre puntos, portamuestras de uno y dos giros. Acoplados al equipo se dispone de un detector EDX Silicon Drift Detector X-Max 80T (Oxford Instruments) y un filtro de energías Gatan (GIF Quantum SE)

Contacto
asuncion@icmse.csic.es
954 48 95 31



Laboratorio de Preparación de Muestras para Microscopía Electrónica


Personal Técnico
Dª María Inmaculada Rosa Cejudo, Dª Olga Montes Amorín (CicCartuja), Dra. M. Carmen Jiménez de Haro
Responsables Científicos
Dra. Asunciòn Fernández Camacho

El laboratorio de preparación de muestras para TEM y SEM dispone de metalizador de oro, evaporador de carbón, metalizador de Cr y carbón, cortadora de disco, pulidora, “disc-grinder”, cortadora ultrasónica, pulidora cóncava (dimple) y adelgazador iónico (Fischione 1010).


Contacto
asuncion@icmse.csic.es
954 48 95 00 ext. 909216



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