Análisis térmico

Responsable Científico Dr. Luis A. Pérez Maqueda · Dr. Pedro Enrique Sánchez Jiménez Personal Técnico Dª Cristina Gallardo López contacto ✉ maqueda@icmse.csic.es ☎ 954 48 95 48

Las técnicas de análisis térmico permiten estudiar aquellos cambios físicos o químicos que ocurren en los sólidos en función de la temperatura y que conlleven modificaciones en su masa o intercambios de calor con su entorno.
En el servicio se pueden realizar experimentos desde temperatura ambiente hasta 1500ºC, tanto en atmósfera inerte (N2) como reactiva (aire, O2,…).
Se dispone de tres técnicas: Análisis Termogravimétrico (TG) y Análisis Térmico Diferencial (ATD).

Instrumental disponible

• Equipo termogravimétrico simultáneo TG/DTA/DSC  STA449 F5 Jupiter (NETZSCH)
• Dilatómetro mecánico horizontal DIL 402 Expedis Select (NETZSCH)
• Equipo de análisis térmico simultáneo TG/ATD/CDB TA Instruments Q600
• Equipo termogravimétrico TG, TA Instruments Q5000
• Equipo de calorimetría Calvet, Setaram Sensys

Fisi-quimisorción

Responsable Científico Dr. Gerardo Colón Ibáñez · Dr. Alfonso Caballero Martínez Personal Técnico Dª Cristina Gallardo López contacto ✉ gcolon@icmse.csic.es · caballero@us.es ☎ 954 48 95 36 - 954 48 95 43

Este servicio constituye una herramienta básica para la caracterización microestructural de sólidos pulverulentos de distinta naturaleza, en cuanto a porosidad, superficie específica y superficie químicamente activa.
En el servicio se dispone de un analizador de adsorción de gases (Micromeritics, ASAP 2020) que proporciona isotermas de adsorción y desorción, a partir de los cuales se obtienen de ellas la superficie específica y distribución del tamaño de poro y de microporo de estos materiales, incorporando también los accesorios necesarios para medidas de quimisorción.

Instrumental disponible

• Analizador científico de fisisorción ASAP2010 (Micromeritics)
• Analizador de quimisorción ASAP2010 (Micromeritics)
• Analizador de fisisorción multimuestra TRISTAR II (Micromeritics)
• Analizador de fisisorción multimuestra TRISTAR II-Kr (Micromeritics)

Espectrometría de Emisión Atómica (ICP-OES)

Responsable Científico Dr. Francisco José Gotor Martínez Personal Técnico Lda. Belinda Sigüenza Carballo contacto ✉ belinda@icmse.csic.es ☎ 954 48 95 39 · int.: 446139

Formulario ICP.docx

La espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente (ICP-OES) es una técnica analítica que permite la cuantificación de elementos hasta nivel traza en muestras en solución. La muestra a analizar es nebulizada y conducida a un plasma de argón, en donde se produce la desolvatación, vaporización, atomización e ionización de los elementos a analizar. Los átomos e iones excitados por la elevada energía térmica suministrada por el plasma emiten durante el proceso de relajación radiación electromagnética de longitudes de onda características de cada elemento. La intensidad de las distintas líneas de emisión es proporcional a la concentración del analito y con la correspondiente curva de calibración es posible realizar su cuantificación. Esta técnica presenta elevada sensibilidad, excelente límite de detección (en el rango ppb, µg/L), buena precisión, alto rendimiento y capacidad multi-elemental, aunque en determinadas ocasiones se pueden producir interferencias espectrales debido a un alto número de líneas de emisión.

Se pueden suministrar muestras sólidas, realizándose la digestión por parte del servicio, o líquidas en solución acuosa ligeramente ácida. No se admiten muestras en HF. Las muestras líquidas no deben presentar precipitados ni coloides en suspensión y deberán poseer un volumen mínimo de 10 ml. Las muestras se entregarán al técnico encargado del servicio, junto con la solicitud de análisis debidamente cumplimentada que se encuentra disponible en la web del ICMS.

Instrumental disponible

• iCAP 7200 ICP-OES Duo (ThermoFisher Scientific)
• Digestor por microondas ETHOS EASY (Milestone)

Espectroscopía Infrarroja

Responsable Científico Dr. Mauricio Calvo Roggiani · Dr. Miguel Angel Centeno Gallego Personal Técnico Dr. Miguel Angel Avilés Escaño contacto ✉ mauricio.calvo@icmse.csic.es · centeno@icmse.csic.es ☎ 954 48 95 39

Reserva on-line

La espectroscopía de Infrarrojos (FT-IR) se basa en la absorción de radiación infrarroja por parte de los materiales. Esta absorción supone un cambio en la energía vibracional de los enlaces, siempre que se produzca un cambio en la polarización de dicho enlace. El resultado obtenido es un espectro en el que se representa la radiación absorbida o transmitida en función del número de onda de la radiación, lo cual permite identificar el enlace correspondiente.
El equipo en el ICMS cubre un rango de número de ondas que va desde 5000 a 250 cm-1 (óptica de CsI) y se puede trabajar con purga o en vacío. Se halla equipado con accesorios para trabajar en los modos de Reflectancia Difusa (DRIFT), Reflectancia Total Atenuada (ATR) y Reflexión Especular. Dispone de un microscopio de Infrarrojos que tiene una resolución lateral de 10 µm.

Instrumental disponible

• JASCO FT/IR-6200 IRT-5000

Espectroscopía Micro-Raman

Responsable Científico Dr. Miguel Angel Centeno Gallego · Dr. Mauricio Calvo Roggiani Personal Técnico Dr. Miguel Angel Avilés Escaño contacto ✉ centeno@icmse.csic.es · mauricio.calvo@icmse.csic.es ☎ 954 48 95 43 - 954 48 95 81

Reserva on-line

La espectroscopía Raman se basa en un proceso fotónico en el que la radiación incidente es dispersada por la muestra, produciéndose transiciones de tipo vibracional y rotacional. En general, el espectro Raman se interpreta como un espectro vibracional que ofrece información muy similar al espectro de infrarrojo, aunque las vibraciones que se ven reflejadas en el espectro Raman no son siempre las mismas que en aquel. Para que un modo vibracional sea activo en espectroscopia Raman es necesario que se produzcan cambios en la polarizabilidad de los enlaces químicos o la molécula considerada, lo que conlleva la producción de momentos dipolares inducidos. Su campo de aplicación es muy extenso: semiconductores, compuestos del carbono (grafito, diamante, nanotubos, fibras…), catalizadores, pigmentos, etc.

Instrumental disponible

• LabRAM Horiba Jobin Yvon dotado de un microscopia confocal y 3 longitudes de excitación (785 nm rojo, 532 nm verde, y 325 nm UV)

Espectroscopía de Electroluminiscencia

Responsable Científico Dr. Mauricio Calvo Roggiani · Dr. Hernán Míguez García contacto ✉ mauricio.calvo@icmse.csic.es · h.miguez@csic.es

El servicio de espectroscopía de electroluminiscencia del ICMS permite caracterizar íntegramente la fotoemisión activada por corriente de un dispositivo emisor de luz (LED). El servicio cuenta con una esfera integradora con un puerto que aloja al dispositivo electroluminiscente conectada a un detector CCD. También se dispone de un módulo para la caracterización angular del dispositivo electroluminiscente. 
Las medidas permiten obtener las curvas de luminancia vs densidad corriente o vs potencial y la eficiencia cuántica de electroluminiscencia.  

Instrumental disponible

• Sistema de medida EQE: C9920-12
• Distribución del brillo de luz: C9920-11

Espectroscopía Ultravioleta-Visible-Infrarrojo Cercano

Responsable Científico Dr. Gabriel Sebastián Lozano Barbero · Dr. Hernán Míguez García Personal Técnico Dr. Miguel Angel Avilés Escaño contacto ✉ glozano@icmse.csic.es · h.miguez@csic.es ☎ 954 48 95 39

Reserva on-line

La técnica de espectroscopía en el rango ultravioleta, visible e infrarrojo cercano (UV-Vis-NIR) nos permite conocer como materiales de distinta morfología (principalmente polvos, láminas y partículas o moléculas en suspensión) reflejan y transmiten la luz incidente en el rango comprendido entre 190 nm y 3000 nm. De esta forma, es posible extraer información sobre su eficiencia como filtros ópticos, ya sean especulares o difusores, y/o sobre la luz absorbida por ellos, lo que indirectamente nos permite estimar su gap electrónico (en el caso de dieléctricos), las transiciones electrónicas que tienen lugar (en el caso de moléculas o sistemas dopados con átomos de otra especie), o las resonancias plasmónicas (en el caso de metales).

Instrumental disponible

• Cary 5000+UMA (Universal Measurement Accessory)
• Cary 300

Laboratorio de Espectroscopía Ultra-rápida

Responsable Científico Dr. Hernán Míguez García · Dr. Juan F. Galisteo López contacto ✉ juan.galisteo@csic.es · h.miguez@csic.es ☎ 954 48 95 87

El laboratorio de espectroscopía ultra-rápida permite realizar medidas de absorción y emisión resueltas en el tiempo con una resolución temporal de 190 femtosegundos (fs) y un amplio rango temporal que va de los 190 fs a 1 milisegundo (ms). Las medidas pueden realizarse en el rango espectral 350-850 nm.

Instrumental disponible

• Sistema de excitación láser ultra-rápido formado por un láser pulsado PHAROS (Light Conversion) (longitud de onda de emisión 1030nm, tasa de repetición 1kHz y duración de pulso 190fs) y un amplificador paramétrico (OPA) ORPHEUS (Light Conversion) que produce pulsos de duración y tasa de repetición iguales al PHAROS pero con una longitud de onda sintonizable en el rango 350-2500nm.
• Espectrómetros de absorción para el rango temporal 190fs-8ns (HELIOS, Ultrafast Systems) y 2ns-1ms (EOS, Ultrafast Systems). Ambos sistemas permiten realizar medidas en el rango espectral 350-1100nm con una resolución de 2nm.
• Espectrómetro de emisión para el rango temporal 190fs-5ns (HALCYONE, Ultrafast Systems) oeprativo en el rango espectral 350-1100nm.
• Sistema de time-correlated single-photon counting (TCSPC) para realizar medidas de emisión resuelta en el tiempo en el rango temporal 1ns-1ms y en el rango espectral 200-850nm.

Análisis Químico de Superficies por Fotoemisión

Responsable Científico Dr. Juan Pedro Espinós Manzorro · Dr. Juan Pedro Holgado Vázquez Personal Técnico Lda. Verónica Rodríguez Bravo · Gdo. Antonio González Moreno contacto ✉ jpespinos@icmse.csic.es · holgado@icmse.csic.es ☎ 954 48 95 30 - 954 48 95 36

formulario para XPS.docx

formulario para XPS.pdf

Las "Espectroscopías de Fotoelectrones" (XPS/ESCA y AES) son técnicas de análisis cuantitativo no destructivo, sensibles exclusivamente a las primeras capas de la superficie de los sólidos (20-30 Å), que permiten obtener información sobre las propiedades químicas, físicas y electrónicas de las mismas.
El interés técnico de esta información es enorme en campos tales como corrosión, catálisis, tratamientos de superficies, fenómenos de flotación y adherencia,  segregación  de fases, etc.
La característica más importante de la Espectroscopía de Fotoelectrones (XPS/ESCA) es que permitir diferenciar distintos estados de oxidación y/o situaciones del entorno (coordinación) de los átomos en las muestras sólidas analizadas. El límite de detección es del 0.5% para cada especie química.
El servicio dispone actualmente de dos instrumentos independientes.

Instrumental disponible
Espectrómetro de Fotoelectrones PHOIBOS 100-DLD, compuesto de: 

• Cámara de análisis, analizador hemiesférico multicanal PHOIBOS 100-DLD, manipulador de cuatro ejes, y fuentes de excitación de rayos X (dual, Alka y MgKa, acromático), de luz ultravioleta y de haces de electrones, lo que permite realizar análisis superficiales mediante técnicas de XPS, UPS, ISS y REELS, así como estudios angulares.
• Dos Precámaras de tratamientos, con vacío residual de 10-8 y 10-9 mbar respectiva-mente, en las que es posible someter a las muestras a tratamientos diversos como: calentamientos a alta temperatura (T<800ºC) bajo atmósfera controlada, desbastado iónico con gases inertes o reactivos, exposición a plasmas, iluminación con laser, deposición de metales, óxidos y compuestos sencillos, exfoliación in situ, etc.

Espectrómetro de Fotoelectrones SPECS, compuesto de:

• Cámara de análisis, dotada de analizador hemiesférico multicanal PHOIBOS 100, manipulador de tres ejes, y fuentes de excitación de rayos X (dual, Alka y MgKa).
• Precámara de tratamiento de alta Presión y alta Temperatura (HPHT Cell). En esta Cá-mara es posible someter a las muestras a tratamientos térmicos en presencia de gases hasta una presión de 20 atm y 800 ºC, tanto en estático como en dinámico (simultáneamente).
• Una cámara de inserción rápida dotada de sistema de aparcamiento/ desgasificado, que permite evacuar las muestras a temperatura reducida (T < 150ºC). También es posible la realización de tratamientos de desbatado iónico o la incorporación de otros sistemas (iluminación con luz Uv-Vis, evaporación de metales, u otros compuestos, etc.).

Determinación del Mojado en Superficies

Responsable Científico Dra. Carmen López Santos contacto ✉ mclopez@icmse.csic.es

Protocolo_wetting.pdf

Formulario_wetting.pdf

La caracterización avanzada del mojado mediante un goniómetro para la determinación del ángulo de contacto de gotas de líquido depositadas sobre una superficie es una técnica de análisis cuantitativo y no destructivo en general, dependiendo de la reactividad que presente el material con el líquido de mojado. La combinación de varios líquidos permite determinar la tensión superficial del material que se moja y realizar estimaciones del trabajo de adhesión en ambientes controlados. El control de la mojabilidad de materiales y superficies inteligentes, bajo la acción de estímulos externos como la aplicación de luz, gradientes de temperatura y/o humedad, cambio de pH o campos eléctricos, son de vital interés en aplicaciones avanzadas de la industria aeronáutica, líneas de comunicación, transporte, protección, patrimonio, energía solar y eólica o biomedicina, entre otras.

La determinación del ángulo de contacto se realiza mediante la aplicación de la ecuación de Young para el equilibrio de tensiones interfaciales, con sensibilidad a escala nanométrica. Los ensayos se pueden realizar en modo estático o en modo dinámico para la obtención de histéresis (ángulo de avance y retroceso) de superficies y valores críticos de deslizamiento de gotas. En cuanto a la tensión superficial del material, los modelos teóricos implementados son los de Owens, Wendt, Rabel and Kaelble, Extended Fowkes, Schultz y Van Oss&Good y Neumann, basados en la existencia de componentes polares y dispersivas. Además, el seguimiento temporal del ángulo de contacto de una superficie da cuenta del envejecimiento y estabilidad en determinados ambientes de uso. Finalmente, la asistencia de una cámara de temperatura y humedad controlada permite la realización de estudios de condensación/evaporación y congelación / descongelación de agua en superficies.

El equipo de medida de ángulo de contacto y tensión superficial, ha sido subvencionado por la Junta de Andalucía (Ayudas a Infraestructuras y equipamientos de I+D+i 2019-PAIDI2020 Fondo Europeo de Desarrollo Regional.

Instrumental disponible

Goniómetro de ángulo de contacto óptico OCA 25 de DataPhysics, compuesto de:

• sistema de inyección doble con volumen de gota líquida, entre los nanolitros (cercano al estado del arte de la técnica) a las decenas de microlitros, controlado por una válvula magnética para su dispensación
• plataforma de giro TBU100 para estudios de deslizamiento de gotas sobre la superficie (-5º - 95º)
• base portamuestras orientable en las 3 direcciones espaciales
• módulo termoeléctrico TPC160 para el control de la temperatura (de -30ºC a 150ºC)
• módulo para la aplicación de campo eléctrico EWP100 en estudios de estimulación del mojado por campos eléctricos (0-64kV DC/AC, distancia electrodos 3-10mm)
• cámara de electrohumedecimiento HGC30 para el control de la humedad de la atmósfera ambiental (de 5% a 90%)
• software SCA 21 con rutina integrada para la estimación de tensiones superficiales (0.01-2000 mN/m)
• sistemas de visualización frontal (3250 f/s) y vertical (2450 f/s)

Caracterización Tribológica y Mecánica de Superficies

Responsable Científico Dr. Juan Carlos Sánchez López Personal Técnico Lda. Belinda Sigüenza Carballo contacto ✉ jcslopez@icmse.csic.es

El nanoindentador KLA G200x permite la evaluación de las propiedades mecánicas en la nanoescala (dureza, módulo de Young) lo cual resulta fundamental para recubrimientos y tratamiento superficiales, obviando la contribución del sustrato.  La técnica CSM (Continuous Stiffness Measurement) permite una medida continua de la rigidez en función de la penetración o frecuencia. Se trata de una herramienta muy útil no sólo para materiales rígidos como los metales, cerámicas o aleaciones sino también para materiales con comportamiento dependiente del tiempo como polímeros, compuestos o biomédicos. 
El equipo cuenta con dos cabezales (baja carga y alta carga) que permite barrer rangos de cargas de hasta 50 y 500 mN, respectivamente. 

El servicio incluye la posibilidad de realizar una caracterización superficial por microscopía óptica confocal e interferométrica para conocer la topografía 3D y rugosidad iniciales y después de haber sido sometidas a ensayos mecánicos o tribológicos.

Instrumental disponible

• Nanoindentador KLA G200x
• Perfilómetro óptico-3D confocal e interferométrico SENSOFAR S-Neox

Difracción de Rayos X

Responsable Científico Dra. Ana Isabel Becerro Nieto (anieto@icmse.csic.es) Personal Técnico Gdo. Ángel Arias Pérez contacto ✉ anieto@icmse.csic.es ☎ 954 48 95 45

La difracción de rayos-X permite la identificación cualitativa y cuantitativa de sustancias cristalinas y su caracterización microestructural y textural.
El servicio dispone en la actualidad de cuatro difractómetros independientes, configurados específicamente para abordar el análisis de muestras policristalinas de muy distinta naturaleza, en lo referente a su composición, estabilidad química, cristalinidad, etc. Asimismo, con alguno de ellos se pueden llevar a cabo, además de los análisis rutinarios (Θ-2Θ), otros varios mas avanzados, como pueden ser:

• Seguir las transformaciones de fase “in situ” provocadas por calentamientos en atmósfera inerte (vacio, Ar) o reactiva (H2, O2,..)
• Caracterizar materiales en la nanoescala (1-100 nm) mediante el estudio de la dispersión de rayos-X a ángulos bajos (SAXS)
• Determinar el grosor, densidad y rugosidad de películas delgadas, mediante Reflectometría de rayos-X
• Obtener la estructura cristalina de materiales inestables a la atmósfera o muy transparentes a los rayos-X, mediante el empleo de capilares

Instrumental disponible

• Difractómetro Panalytical X'PERT PRO con cargador automático de muestras
• Difractómetro PHILIPS X'PERT con cámara de alta temperatura (1200 ºC) ANTON PAAR HTK 1200
• Difractómetro Panalytical X'PERT PRO (reflectometría, SAXS, ángulo rasante y capilares)

Microscopía Electrónica de Barrido

Responsable Científico Dra. Cristina T. Rojas Ruiz · Dr. Asunción Fernández Camacho Personal Técnico Dra. Mª Carmen Jiménez de Haro contacto ✉ tcrojas@icmse.csic.es · cjimenez@icmse.csic.es · asuncion@icmse.csic.es ☎ 954 48 96 25

Reserva on-line

La microscopía electrónica de barrido proporciona información microestructural, morfológica y de composición química en escala microscópica. Se puede aplicar a todo tipo de materiales y problemáticas de estudio en ciencia de materiales: cerámicas, plásticos, metales, minerales, catalizadores, muestras de patrimonio histórico, capas finas, recubrimientos, interfases, nanopartículas, etc. El equipo SEM es un microscopio de emisión de campo de cátodo frío que permite realizar imágenes de la morfología y textura superficial de las muestras con una resolución de 1 nm a 15kV. También permite trabajar a bajo voltaje en muestras sin metalizar y en modo transmisión (STEM-in-SEM) en muestras electrón-transparentes. Acoplado al detector de rayos-X (EDX) permite análisis elementales y mapas composicionales.

Instrumental disponible

• Microscopio SEM, modelo Hitachi S4800 SEM-FEG: cañón de emisión de campo de cátodo frío y voltaje de 0.5-30 kV, resolución de 1 nm a 15kV. Dotado de analizador EDX Bruker-X Flash-4010 con una resolución de 133 eV (en la línea MnKα) y detector con portamuestras para trabajar en modo transmisión (STEM-in-SEM).
• Equipamiento adicional en el “laboratorio de preparación de muestras para microscopía electrónica”

Microscopía Electrónica de Transmisión

Responsable Científico Dra. Cristina T. Rojas Ruiz · Dra. Asunción Fernández Camacho · Dr. Miguel Anaya Martín Personal Técnico Dra. Luisa María Valencia Liñán · Lda. Olga Montes Amorín · Dª. Inmaculada Rosa Cejudo contacto ✉ tcrojas@icmse.csic.es · olga@ciccartuja.es · asuncion@icmse.csic.es ☎ 954 48 96 25

Reserva on-line

La microscopía electrónica de transmisión es una técnica ampliamente utilizada para la caracterización estructural y química de materiales a escala microscópica y nanoscópica, proporcionando  imágenes bidimensionales de la textura de la muestra, forma y tamaño de grano y/o de partícula, grado de homogeneidad a escala microscópica, grado de cristalinidad de la muestra, identificación de fases cristalinas, e imágenes de alta resolución que identifican dominios cristalinos. El equipo está dotado de un analizador EDX para el análisis composicional. Puede aplicarse a todo tipo de materiales y campos de estudio en ciencia y tecnología de materiales trabajando sobre muestras electrón-transparentes preparadas en su caso ad-hoc para este fin. El servicio realiza microscopía en modo transmisión: Imágenes en campo claro y campo oscuro, difracción de electrones de área selecta y microscopía electrónica de alta resolución así como análisis elemental de area selecta. No se dispone de modo STEM. 

Instrumental disponible

• Microscopio JEOL 2100Plus (200kV) con filamento de LaB6. Resolución estructural de 0.14 nm entre líneas y 0.23 nm entre puntos, portamuestras de uno y dos giros. Acoplados al equipo se dispone de un sistema de análisis por Energías Dispersivas de Rayos X (EDX X-Max 80T, Oxford Instruments) y una cámara CCD (Gatan) para registro de imágenes.
• Equipamiento adicional en el “laboratorio de preparación de muestras para microscopía electrónica”

Laboratorio de Nanoscopias y Espectroscopias-LANE

Responsable Científico Dra. Cristina T. Rojas Ruiz · Dra. Asunción Fernández Camacho · Dr. Miguel Anaya Martín Personal Técnico Dra. Luisa María Valencia Liñan · Lda. Dª Olga Montes Amorín contacto ✉ tcrojas@icmse.csic.es · olga@ciccartuja.es · asuncion@icmse.csic.es ☎ 954 48 96 25

Reserva on-line

El laboratorio LANE cuenta con un microscopio TEM de emisión de campo Tecnai F30, dotado con modo STEM, detectores HAADF y EDX y filtro de energía (GIF). Las técnicas disponibles incluyen: medidas TEM en campo claro y campo oscuro; TEM de alta resolución; difracción de electrones; análisis STEM-HAADF; análisis EDX y STEM-EDX así como EELS y STEM-EELS, incluyendo medidas puntuales, en línea y mapas composicionales; imágenes EFTEM; análisis espectro-imagen y tomografía electrónica.

Instrumental disponible

• Microscopio Tecnai G2 F30 S-TWIN de 300KV con cañón de emisión de campo. Resolución estructural de 0.2 nm entre puntos, portamuestras de uno y dos giros. Acoplados al equipo se dispone de un detector EDX Silicon Drift Detector X-Max 80T (Oxford Instruments) y un filtro de energías Gatan (GIF Quantum SE)
• Equipamiento adicional en el “laboratorio de preparación de muestras para microscopía electrónica”

Laboratorio de Preparación de Muestras para Microscopía Electrónica

Responsable Científico Dra. Cristina T. Rojas Ruiz · Dra. Asunción Fernández Camacho · Dr. Miguel Anaya Martín Personal Técnico Dra. Luisa María Valencia Liñán · Dª María Inmaculada Rosa Cejudo · Lda. Dª Olga Montes Amorín contacto ✉ tcrojas@icmse.csic.es

El laboratorio de preparación de muestras para TEM y SEM dispone de metalizador de oro, evaporador de carbón, metalizador de Cr y carbón, cortadora de disco, pulidora, “disc-grinder”, cortadora ultrasónica, pulidora cóncava (dimple) y adelgazador iónico (Fischione 1010).

Preparación, caracterización y procesado de materiales

Este Servicio puede suministrar todo tipo de muestras sólidas con actividad catalítica en diversos procesos de interés industrial, energético y medioambiental.
Las muestras se suministran en cualquier etapa de preparación, con o sin pretratamiento o incluso listas para ser utilizadas. Puede incluir su caracterización por diversas técnicas físicas y químicas.

Servicio de mecanizado

Responsable Científico Dr. Juan Pedro Espinós Manzorro Personal Técnico D. Juan Carlos Martín Sánchez · D. Manuel Perea Domínguez contacto ✉ jcarlos.martin@csic.es ☎ 954 48 96 17 · int.: 446 102

Se trata de un servicio horizontal fundamental para el ICMS y unidades externas adscritas al mismo.Ya que permite mejorar, modificar y adecuar el material y equipamiento científico a las necesidades
de cada investigador y/o investigación en curso; llegando a su diseño y fabricación partiendo de una necesidad concreta, además del asesoramiento técnico de todos los elementos anteriormente
descritos.

Además brinda la posibilidad de realizar pequeñas reparaciones y parte del mantenimiento general del equipamiento científico y de laboratorio del ICMS.

Prestaciones e Instrumental disponible

El servicio cuenta con máquinas-herramienta, herramientas manuales y eléctricas para la conformación de materiales muy diversos. Según las prestaciones ofrecidas se clasifican de la
siguiente forma:

Diseño mediante CAD de piezas 2D o 3D.
En el apartado de oficina técnica para el diseño CAD, se cuenta con el software Autodesk Fusion.

Fabricación de piezas mediante procedimiento de arranque de viruta.
Para los procesos de mecanizado por arranque de viruta se cuenta con las siguientes máquinas-herramientas:

- Fresadora vertical CNC, HAAS TM 1P.
- Fresadora de torreta convencional, Fortex FTX-4-FC VARIO.
- Taladro vertical, ERLO TSAR32.
- Torno paralelo convencional, PINACHO SC200.
- Torno paralelo semiautomático, PINACHO SMART TURN180.
- Sierra de cinta, Optimum S210G.

Prototipado rápido de piezas por depósito de plástico.
Para el prototipado rápido de piezas de diversos plásticos técnicos se cuenta con el equipo:

- Impresora 3D FDM CoreXY

Corte 2D por chorro de agua de alto rendimiento.
Para el corte CNC 2D por chorro de agua abrasivo de alto rendimiento se cuenta con la máquina-herramienta:

- Mesa de corte por chorro de agua abrasivo OMAX ProtoMAX.

Procesos de soldeo de materiales metálicos.
Para la unión de diversos materiales metálicos se cuentan con los procesos de soldeo por fusión:

- Soldadura autógena ,fuerte y blanda, con diferentes aportes.
- Soldadura MMA, arco eléctrico.
- Soldadura TIG sobre aceros.