Difracción de Rayos X

Responsable Científico Dra. Ana Isabel Becerro Nieto (anieto@icmse.csic.es) Personal Técnico Gdo. Ángel Arias Pérez contacto ✉ anieto@icmse.csic.es ☎ 954 48 95 45

La difracción de rayos-X permite la identificación cualitativa y cuantitativa de sustancias cristalinas y su caracterización microestructural y textural.
El servicio dispone en la actualidad de cuatro difractómetros independientes, configurados específicamente para abordar el análisis de muestras policristalinas de muy distinta naturaleza, en lo referente a su composición, estabilidad química, cristalinidad, etc. Asimismo, con alguno de ellos se pueden llevar a cabo, además de los análisis rutinarios (Θ-2Θ), otros varios mas avanzados, como pueden ser:

• Seguir las transformaciones de fase “in situ” provocadas por calentamientos en atmósfera inerte (vacio, Ar) o reactiva (H2, O2,..)
• Caracterizar materiales en la nanoescala (1-100 nm) mediante el estudio de la dispersión de rayos-X a ángulos bajos (SAXS)
• Determinar el grosor, densidad y rugosidad de películas delgadas, mediante Reflectometría de rayos-X
• Obtener la estructura cristalina de materiales inestables a la atmósfera o muy transparentes a los rayos-X, mediante el empleo de capilares

Instrumental disponible

• Difractómetro Panalytical X'PERT PRO con cargador automático de muestras
• Difractómetro PHILIPS X'PERT con cámara de alta temperatura (1200 ºC) ANTON PAAR HTK 1200
• Difractómetro Panalytical X'PERT PRO (reflectometría, SAXS, ángulo rasante y capilares)