Servicio de Microscopía de Electrones

Microscopía Electrónica de Barrido

Responsable/s Científico/s
Dr. Asunción Fernández Camacho

Técnico/s
Dra. Mª Carmen Jiménez de Haro

Teléfono/s
954 48 95 00 ext. 909211

Fax
954 46 06 65

Contacto
cjimenez@icmse.csic.es
asuncion@icmse.csic.es

Reserva on-line
 

La microscopía electrónica de barrido proporciona información microestructural, morfológica y de composición química en escala microscópica. Se puede aplicar a todo tipo de materiales y problemáticas de estudio en ciencia de materiales: cerámicas, plásticos, metales, minerales, catalizadores, muestras de patrimonio histórico, capas finas, recubrimientos, interfases, nanopartículas, etc. El equipo SEM es un microscopio de emisión de campo de cátodo frío que permite realizar imágenes de la morfología y textura superficial de las muestras con una resolución de 1 nm a 15kV. También permite trabajar a bajo voltaje en muestras sin metalizar y en modo transmisión (STEM-in-SEM) en muestras electrón-transparentes. Acoplado al detector de rayos-X (EDX) permite análisis elementales y mapas composicionales.

Instrumental disponible

  • Microscopio SEM, modelo Hitachi S4800 SEM-FEG: cañón de emisión de campo de cátodo frío y voltaje de 0.5-30 kV, resolución de 1 nm a 15kV. Dotado de analizador EDX Bruker-X Flash-4010 con una resolución de 133 eV (en la línea MnKα) y detector con portamuestras para trabajar en modo transmisión (STEM-in-SEM).
  • Equipamiento adicional en el “laboratorio de preparación de muestras para microscopía electrónica”


Microscopía Electrónica de Transmisión

Responsable/s Científico/s
Dra. Asunción Fernández Camacho

Técnico/s
Lda. Olga Montes Amorín
Dª. Inmaculada Rosa Cejudo


Teléfono/s
954 48 95 00 exts. 909215 - 909216

Fax
954 46 06 65

Contacto
olga@ciccartuja.es
asuncion@icmse.csic.es

Reserva on-line

La microscopía electrónica de transmisión es una técnica ampliamente utilizada para la caracterización estructural y química de materiales a escala microscópica y nanoscópica, proporcionando  imágenes bidimensionales de la textura de la muestra, forma y tamaño de grano y/o de partícula, grado de homogeneidad a escala microscópica, grado de cristalinidad de la muestra, identificación de fases cristalinas, e imágenes de alta resolución que identifican dominios cristalinos. El equipo está dotado de un analizador EDX para el análisis composicional. Puede aplicarse a todo tipo de materiales y campos de estudio en ciencia y tecnología de materiales trabajando sobre muestras electrón-transparentes preparadas en su caso ad-hoc para este fin. El servicio realiza microscopía en modo transmisión: Imágenes en campo claro y campo oscuro, difracción de electrones de área selecta y microscopía electrónica de alta resolución así como análisis elemental de area selecta. No se dispone de modo STEM. 


Instrumental disponible

  • Microscopio Philips CM20 (200kV) con una resolución estructural de 0.14 nm entre líneas y 0.23 nm entre puntos, portamuestras de uno y dos giros y de calentamiento.  Acoplados al equipo se dispone de un sistema de análisis por Energías Dispersivas de Rayos X (EDX X-Max 80T, Oxford Instruments) y una cámara CCD (Gatan) para registro de imágenes.
  • Equipamiento adicional en el “laboratorio de preparación de muestras para microscopía electrónica” 


Laboratorio de Preparación de Muestras para Microscopía Electrónica

Responsable/s Científico/s
Dra. Asunciòn Fernández Camacho

Técnico/s
Dª María Inmaculada Roja Cejudo
Dª Olga Montes Amorín (CicCartuja)
Dra. M. Carmen Jiménez de Haro


Teléfono/s
954 48 95 00 ext. 909216

Fax
954 46 01 65

Contacto
asuncion@icmse.csic.es

El laboratorio de preparación de muestras para TEM y SEM dispone de metalizador de oro, evaporador de carbón, metalizador de Cr y carbón, cortadora de disco, pulidora, “disc-grinder”, cortadora ultrasónica, pulidora cóncava (dimple) y adelgazador iónico (Fischione 1010).



Centro de Investigaciones Científicas Isla de la Cartuja. C/Américo Vespucio, 49 - 41092 Sevilla (España)
Tel.: [+34] 954489527 | Fax: [+34] 954460165 | buzon@icmse.csic.es